產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
耦合器加熱用試驗裝置GB17465.1-2009第18.2條、圖13以及IEC60320-1第18.2條及圖13的要求，耦合器加熱用試驗裝置用於耦合器在熱條件或酷熱條件下的耐熱性能測試；
詳情介紹：
耦合器加熱用試驗裝置GB17465.1第18.2條、圖13以及IEC60320-1第18.2條及圖13的要求，用於耦合器在熱條件或酷熱條件下的耐熱性能測試；
耦合器加熱用試驗裝置技術參數(shù)：
1.耦合器加熱用試驗裝置加熱溫度：RT常溫～200℃；
2.耦合器加熱用試驗裝置溫度分辨率0.1℃，誤差±1℃；
3.加熱控製方式：溫控表PID控製；
4.耦合器中心距：以Φ175的圓均布排列；
5.耦合器加熱用試驗裝置計時器：1～9999h；
6.試樣溫度探頭類型：T型；
